Ergebnis der Suche

Ergebnis der Suche nach: ( (Freitext: MIKROSKOPIE) und (Bildungsebene: "SEKUNDARSTUFE II") ) und (Lernressourcentyp: ARBEITSBLATT)

Es wurden 3 Einträge gefunden

Treffer:

1 bis 3

• 

  
  

  Details  

  

• 

  
  

  Details  

  

• 

  

  Untersuchung atomarer Oberflächen mit einem STM - Unterrrichtsanregung

  Im Rahmen unserer Physik-AG arbeiteten wir mit einem Rastertunnelmikroskop (STM = Scanning Tunneling Microscope) der Firma Nanosurf. Wir untersuchten damit die Oberflächen verschiedener Materialien, lösten diese zum Teil atomar auf und analysierten deren physikalische Eigenschaften.
  

  Details  

  

  { "HE": "DE:HE:128777", "DBS": "DE:DBS:52960", "LO": "DE:SODIS:de.lehrer-online.521724" }