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Ergebnis der Suche nach: ( (Freitext: MESSUNG) und (Bildungsebene: "SEKUNDARSTUFE I") ) und (Lernressourcentyp: ARBEITSMATERIAL)

Es wurden 5 Einträge gefunden

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  Messung der Mondentfernung durch Triangulation - Unterrichtseinheit

  Schülerinnen und Schüler aus Südafrika, Griechenland und Deutschland fotografierten zur selben Zeit Mond, Jupiter und Saturn. Nachdem die Bilder über das Internet ausgetauscht worden waren, wurde die Mondparallaxe bestimmt und die Entfernung des Mondes von der Erde berechnet. Das Projekt eignet sich für Astronomie-Arbeitsgemeinschaften und wurde vom Autor im Rahmen des ...
  

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  { "HE": "DE:HE:128784" }

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  Die Vermessung der Lebensqualität - Suche nach neuen Wohlstandsindikatoren

  Weltweit werden neue Indikatoren zur Messung des Wohlergehens einer Gesellschaft erprobt - jenseits des Bruttosozialproduktes. Ein Überblick zum Stand der Debatten (Böckler-Impuls 2012-15).
  

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  { "HE": "DE:HE:1764149" }

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  Einfach mal ausprobieren! Schülerexperimente mit Microcontrollern im Physikunterricht

  Ziel des Arbeitsmaterials ist es Physiklehrkräften einen einfachen Einstieg in die Anwendung und Verwendung von Microcontrollern, wie Arduinos zu geben. Das begleitende Schülermaterial besteht aus Aufgaben zu den Versuchen mit steigendem Anforderungsniveau und einem kleinen Lexikon der Fachbegriffe.
  

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  { "LO": "DE:LO:de.lehrer-online.wm_002472" }

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  Strahlung und Strahlenschutz

  Die im April 2019 vom Bundesamt für Strahlenschutz aktualisierte Broschüre (90S, pdf) beschäftigt sich u.a. ausführlich mit dem Menschen im Feld natürlicher und künstlicher Strahlenquellen und ihrer Wirkung auf ihn. Zahlen zur Strahlenbelastung in Deutschland (ca. 2,1mSv pro Jahr aus natürlichen und 1,8mSv pro Jahr aus künstlichen Strahlenquellen) werden ...
  

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  { "HE": [] }

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  Untersuchung atomarer Oberflächen mit einem STM - Unterrrichtsanregung

  Im Rahmen unserer Physik-AG arbeiteten wir mit einem Rastertunnelmikroskop (STM = Scanning Tunneling Microscope) der Firma Nanosurf. Wir untersuchten damit die Oberflächen verschiedener Materialien, lösten diese zum Teil atomar auf und analysierten deren physikalische Eigenschaften.
  

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  { "HE": "DE:HE:128777", "DBS": "DE:DBS:52960", "LO": "DE:SODIS:de.lehrer-online.521724" }